MAXTEK 晶控仪 MDC-360

1103022002/IF

品牌：MAXTEK

型号：MDC-360

名称：晶控仪

产品信息：

兆赫频率分辨率：0.03 Hz@6.0
质量分辨率：0.375 Ng/cm2（0.014）
厚度精度：0.5％+ 1
测量更新率动态调整：0.5至10赫兹
显示更新频率：10 Hz
传感器晶体频率：2.5，3，5，6，9.5，10兆赫

兆赫频率分辨率：0.03 Hz@6.0
质量分辨率：0.375 Ng/cm2（0.014？铝）
厚度精度：0.5％+ 1个计数
测量更新率动态调整：0.5至10赫兹
显示更新频率：10 Hz
传感器晶体频率：2.5，3，5，6，9.5，10兆赫

MDC- 360是基本型，前面输入，操作简单，功能齐全并能控制多达四个单或多个控制和接口，双或者多晶传感器。它有多达99进程，999层的定义和完整的材料32的定义，一个物质和系统参数，包括多速率。它完全符合2.5至10 MHz的晶体传感器支持可编程的。

MDC-360膜厚控制仪具备全自动，单层或多层蒸镀控制功能，通过可靠的数字信号程控，可用于批量生产或实验室研发以提高膜特性的重复及可预测性，该设备具有功能强大的自我检测系统，运行限制条件与中止功能可由操作员设定。